AET高速光模塊熱流儀
運用于半導體測試平臺的高低溫測試。電子設備高溫低溫恒溫測試冷熱源。
非接觸測試:避免機械接觸對模塊的壓力,更適合某些精密或特殊封裝模塊;
熱場均勻:流動空氣包裹模塊,溫度梯度??;
無磨損風險:沒有接觸式TEC的反復壓接磨損問題;設備小巧,方便移動,插電即用;
可與測試機進行高度交互,可控工件Tc和Tj(需給入芯片溫度信號)
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運用于半導體測試平臺的高低溫測試。電子設備高溫低溫恒溫測試冷熱源。
非接觸測試:避免機械接觸對模塊的壓力,更適合某些精密或特殊封裝模塊;
熱場均勻:流動空氣包裹模塊,溫度梯度??;
無磨損風險:沒有接觸式TEC的反復壓接磨損問題;設備小巧,方便移動,插電即用;
可與測試機進行高度交互,可控工件Tc和Tj(需給入芯片溫度信號)
AET高速光模塊熱流儀

運用于半導體測試平臺的高低溫測試。電子設備高溫低溫恒溫測試冷熱源。
非接觸測試:避免機械接觸對模塊的壓力,更適合某些精密或特殊封裝模塊;
熱場均勻:流動空氣包裹模塊,溫度梯度小;
無磨損風險:沒有接觸式TEC的反復壓接磨損問題;設備小巧,方便移動,插電即用;
可與測試機進行高度交互,可控工件Tc和Tj(需給入芯片溫度信號)
| 設備型號 | AET-50 | |||
| 溫度范圍 | 0℃~+70℃ | |||
| 溫度精度 | ±0.5℃ | |||
| 升降溫能? | 具備?溫70℃直接降溫技術,滿??標在?溫運?時迅速進?降溫能?。 | |||
| 制冷能? | 50W@0C | |||
| 操控?板 | 4.3?觸摸屏 | |||
| 控制器 | PLC可編程控制器,標配?持ModbuSRTU協(xié)議,RS485接?,可選擇其他通信協(xié)議。 | |||
| 標準電源 | 單相220V?50Hz | |||
| 設備外形尺?mm | 490*255*285 | |||
| 運??式 | 直吹/循環(huán)? | |||
| 安全保護 | 具有熱保護裝置,保護設備安全 | |||

銷售部:400-100-3173
投訴建議:13912475897
