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          AET高速光模塊熱流儀

          AET高速光模塊熱流儀

          運用于半導體測試平臺的高低溫測試。電子設備高溫低溫恒溫測試冷熱源。

          非接觸測試:避免機械接觸對模塊的壓力,更適合某些精密或特殊封裝模塊;

          熱場均勻:流動空氣包裹模塊,溫度梯度??;

          無磨損風險:沒有接觸式TEC的反復壓接磨損問題;設備小巧,方便移動,插電即用;

          可與測試機進行高度交互,可控工件Tc和Tj(需給入芯片溫度信號)

          AET高速光模塊熱流儀

           

          運用于半導體測試平臺的高低溫測試。電子設備高溫低溫恒溫測試冷熱源。

          非接觸測試:避免機械接觸對模塊的壓力,更適合某些精密或特殊封裝模塊;

          熱場均勻:流動空氣包裹模塊,溫度梯度小;

          無磨損風險:沒有接觸式TEC的反復壓接磨損問題;設備小巧,方便移動,插電即用;

          可與測試機進行高度交互,可控工件Tc和Tj(需給入芯片溫度信號)

          設備型號 AET-50
          溫度范圍 0℃~+70℃
          溫度精度 ±0.5℃
          升降溫能? 具備?溫70℃直接降溫技術,滿??標在?溫運?時迅速進?降溫能?。
          制冷能? 50W@0C
          操控?板 4.3?觸摸屏
          控制器 PLC可編程控制器,標配?持ModbuSRTU協(xié)議,RS485接?,可選擇其他通信協(xié)議。
          標準電源 單相220V?50Hz
          設備外形尺?mm 490*255*285
          運??式 直吹/循環(huán)?
          安全保護 具有熱保護裝置,保護設備安全
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