電子元器件可靠性測試:冠亞恒溫AES系列CHILLER應(yīng)用 2026/04/10 5 冠亞研發(fā)的AES系列CHILLER氣體制冷設(shè)備,是專為電子元器件可靠性測試設(shè)計(jì)的專用溫控設(shè)備,采用射流式快速溫變技術(shù),可實(shí)現(xiàn)-80℃至225℃的寬溫域控溫,升降溫速率快,控溫jing度高,適配電子元器件可靠性測試的各類... 查看全文